ー NanoTerasu研修会 ー
2026年度「BL08W-SAXSビームラインを利用したX線小角散乱測定研修会」
実施のご案内

日　時：2026年4月～7月（計7回）13:00～17:00

会　場：NanoTerasu BL08W（〒980-0845宮城県仙台市青葉区荒巻字青葉468-1 ナノテラス）

　　　　アクセスはこちら

主　催：公益財団法人高輝度光科学研究センター（JASRI）

趣旨

NanoTerasuのBL08W-SAXSビームラインを利用した、産官学の研究者を対象とした測定研修会を開催します。

本研修会は、放射光利用の経験の有無を問わず、高輝度放射光を用いた高強度・マルチスケール構造解析技術を広く普及させることを目的としています。本技術は、アカデミックな基礎研究のみならず、新規材料開発や品質管理といった企業活動の進展にも大きく寄与しており、現在その活用の裾野は着実に広がっております。

こうした背景を踏まえ、産官学の研究者が、それぞれの習熟度に応じて本測定装置の特徴や利用上の留意点を深く理解することで、今後のユーザー実験における的確な計画立案や円滑な実施に役立てていただくことを目指します。

計測条件

試料―検出器間距離：55 mm～1600 mmで変更可能です（検出器：Eiger2 1M）。X線エネルギー：8keVおよび13.1keVが利用できますが、研修会では8 keVを予定しています。対象スケール：0.2 nmから200 nm（原子・分子スケールからナノ構造まで）の広範囲な構造解析に対応します。試料空間は真空状態に維持されているため、散乱バックグラウンドを抑えた測定が可能となります。そのため、試料は密閉容器に封入するなど、真空環境に対応できる状態にする必要があります。

詳細は以下のビームライン情報よりご確認ください。

BL08W SAXS INFORMATION

申込方法

募集定員：各回最大2グループ（1グループ2名以内）

参加費：無料

対象者：NanoTerasuでの小角散乱計測の経験は問いませんが、以下のいずれかに該当する研究者。なお、恐れ入りますが、学生の方のみでのご参加はご遠慮いただいております。

　①BL08W-SAXSにて、2026Bまたは2027A期の利用研究課題を申請検討中の方。
　②現在、上記課題の申請書を作成中の方。

申込期間：近日中に公開するフォームから参加申込みを行ってください。各回ごとに再度お申し込みいただく必要はありません。定員を超過しご希望の月に参加いただけなかった場合、翌月以降の開催回へ自動的に繰り越し、選考の対象とさせていただきます。

　＜4月開催＞3月中旬頃締切（予定）（※近日中に受付開始）
　＜5月開催＞4月中旬頃締切（予定）
　＜6月開催＞5月上旬～中旬頃締切（予定）
　＜7月開催＞6月上旬～中旬頃締切（予定）

申込方法：NanoTerasu共通利用約款を必ずご確認の上、フォームからオンラインでお申込みください。なお、申込みにあたっては2026Bまたは2027A期での申請を検討している利用研究課題について「一般課題申請用下書き」をダウンロードしご記入の上、申込みフォームからご提出ください。

　申込みフォームはこちら（※近日中に公開予定）

　「一般課題申請用下書き」はこちらからダウンロードください

注意事項

■調整後、全ての申込者に参加の可否についてご連絡致します。

■手続きに関する案内は、参加決定後にご連絡差し上げます。

■研修会参加者への旅費支給等はありません。

■学生の方は「学生保険」等に加入していることが必要です。

■記録用に研修会の様子を写真または映像にて撮影させて頂く可能性があります。予めご了承ください。

■NanoTerasu では顔認証による入館システムを用いています。事前のデータ登録が必要です。システムに参加者の情報が記録されますので、予めご了承ください。

■連絡等は全てe-mailで行います。参加の手続きにはオンライン登録や書類のダウンロードが必要です。インターネットに接続できる環境をご用意ください。

■ご質問、ご要望はメールにてご連絡をお願いいたします。

問い合わせ先