ＸＡＦＳ（Ｘ線吸収微細構造）スペクトル解析法の概略や注意点、産業利用に関連した先端材料の解析例について学び、 ＸＡＦＳスペクトルのデータ処理やFEFFを用いたシミュレーションの実習を行います。

(財)高輝度光科学研究センター(JASRI)

SPring-8 利用推進協議会「産業利用研究会」

日本ＸＡＦＳ研究会、　SPring-8利用者懇談会「Ｘ線スペクトロスコピー研究会」

2007年　1月　31日（水）　10：30　～　2月 1日（木）16：00　

キャンパス・イノベーションセンター　東京地区　1F国際会議室　　電話 ： 03-4212-6321　(代表)
技術交流会　（参加費 ： 2,000円）

　　 　　

時間	講義/実習	内容	講演者
1月31日
10：30 - 10：50	講義	SPring-8における産業利用について	渡辺義夫（JASRI）
10：50 - 12：30	実習	XAFS解析プログラムの概要説明 ※実習用PC(Windows)、解析ソフト等はこちらで用意したものを使用致します。	屋代恒（リガク）
12：30 - 13：30	（昼食　60分）
13：30 - 15：00	講義	FEFFの実際 -触媒解析を例として-	朝倉清高（北海道大）
15：00 - 15：20	（休憩　20分）
15：20 - 17：20	実習	XAFSデータ解析（ＦＥＦＦを含む）実習　（チュートリアル形式） ※標準試料（結晶）、燃料電池電極触媒、二次電池用電極材料	屋代恒（リガク）
17：20 - 18：50	講義	相変化材料Ge2Sb2Te5の構造に光を投じる -フリーウェアathenaとartemisによるXAFSデータ解析-	Paul Fons （産業総合研究所）
19：00 - 20：30	技術交流会
2月1日
10：00 - 11：30	講義	XANESで何が分かるか？-XANES解析事例紹介-	吉田朋子（名古屋大）
11：30 - 12：30	（昼食　60分）
12：30 - 14：00	講義	ＸＡＦＳ解析の落とし穴	渡辺巌（大阪府立大）
14：20 - 16：00	実習	デモデータもしくは持ち込みデータによるEXAFS解析

 

・ ＸＡＦＳ測定・解析の経験があり、スペクトル解析方法について詳しく知りたい方

40名 (ただし1台のPCを2名でご利用頂くことになります) 定員になり次第締め切ります。
申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。　 調整後、申込者に参加の可否についてご連絡致します。 同じ所属の方が参加を希望される場合、最大2名とし先着順とさせて頂きます。 ＜実習用にはＰＣ20台を用意する予定です＞

無料

締め切りました。

・　注意事項 講習会参加者は下記の文献（特にEXAFSスペクトルの解析方法）を参照してきて下さい。
　　　※初級・中級レベルを想定しているためEXAFSスペクトルの基本的な解析方法についての講義はございません。
　　　宇田川康夫編　『X線吸収微細構造　XAFSの測定と解析』　学会出版センター
　　　大田俊明編　『X線吸収分光法　－XAFSとその応用－』　アイピーシー
・　データの持込みは可能です。ただし、データの形式はSPring-8、Photon Factory、Ritsで標準的に使用されているものに限ります。（データ形式、時間の都合により、解析が行えない場合もあります。）メディアは、USBフラッシュメモリまたはCD-Rでお願いします。

講習会担当
(財)高輝度光科学研究センター
産業利用推進室　　本間、 TEL：0791-58-0802 ex.3508、 e-mail：honma@spring8.or.jp
利用研究促進部門　宇留賀、 TEL：0791-58-0802 ex.3836、 e-mail：urugat@spring8.or.jp
利用研究促進部門　谷田、 TEL：0791-58-0802 ex.3880、 e-mail：tanida@spring8.or.jp

事務局
(財)高輝度光科学研究センター
研究調整部 研究業務課 産業利用推進室担当事務　垣口、笠原
Tel：0791-58-0839　Fax：0791-58-0988　e-mail : workshops@spring8.or.jp