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JASRIの知的財産権

(財)高輝度光科学研究センターが出願した特許のうち既に公開されている特許を紹介します。ここに紹介した特許の内容に関しては特許庁のホームページで閲覧可能ですのでそちらを参照してください。また、特許に関するお問い合わせは利用業務部図書情報課(patent@spring8.or.jp)までお願いします。

[特許庁ホームページ:http://www.jpo.go.jp/indexj.htm]
[特許電子図書館(特許庁の web 特許検索閲覧サービス):http://www.ipdl.inpit.go.jp/homepg.ipdl]

↑以下に紹介する特許に関しては、特許電子図書館の「公報テキスト検索」にて「出願人/権利者」欄に「高輝度光科学研究センター」と入力して検索すれば最新の情報ですべて表示されます。また、公開されているものについては出願内容の確認も可能です。

・平成23年(3件)
2012年2月2日 現在
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  花木 博文 導波管型非可逆素子 2011年2月3日
特願2011-021371
公開前
  宇留賀 朋哉 高速XAFS計測装置及びその作動方法 2011年7月7日
特願2011-150742
公開前
  大橋 治彦 低振動フレキシブルチューブ 2011年12月15日
特願2011-274989
公開前
 
・平成22年(3件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  梅谷 啓二 放射線治療装置および放射線治療装置の照射視野確認画像取得方法 2010年3月15日
特願2010-58308
特開2011-189016
  冨澤 宏光 各段がモジュール化された多段増幅式レーザシステムの自動最適化システム 2010年3月31日
特願2010-81135
特開2011-216552
  馬場 清喜 結晶の解析測定方法及びそのための解析測定装置 2010年12月26日
特願2010-289042
公開前
 
・平成21年(3件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  岩本 裕之 X線測定試料室にプローブ顕微鏡を組み込み、X線測定の位置精度を上げる方法 2009年2月24日
特願2009-41520
特開2010-197175
  冨澤 宏光 偏極電子銃、偏極電子線の発生方法、電子銃の評価方法、及び逆光電子分光方法 2009年3月17日
特願2009-63992
特開2010-218868
  廣沢 一郎 非破壊単結晶基板反り測定法及び測定装置 2009年3月19日
特願2009-67195
特開2010-217127
  熊坂 崇 Ras機能阻害剤の標的としての、GTP結合型Rasの不活性型の新規立体構造 2009年7月14日
特願2009-165717
公開前
 
・平成20年(4件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  太田 昇 導電層を有するフィルムで指示された光センサを内蔵するビームストップ 2008年1月25日
特願2008-14475
特開2009-175020
  冨澤 宏光 電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法 2008年7月4日
特願2008-175843
特開2010-15877
  佐藤 眞直 X線回折装置およびX線回折方法 2008年9月10日
特願2008-232630
特開2010-66121
  守友 浩 シアノ架橋金属錯体の微細加工方法およびシアノ架橋錯体の微細加工装置 2008年10月31日
特願2008-280711
特開2010-105028
 
・平成19年(8件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  坂田 修身 圧電体、圧電体素子、圧電体素子を用いた液体吐出ヘッド及び液体吐出装置 2007年3月2日
特願2007-53507
特開2008-218675
  冨澤 宏光 加速空胴のエッチング方法 2007年3月28日
特願2007-84245
特開2008-243671
  冨澤 宏光 ビーム測定装置、ビーム測定方法、及びそれを用いたポンプ・プローブ測定方法 2007年5月18日
特願2007-133046
特開2008-288087
  冨澤 宏光 電子銃、電子発生方法、及び偏光制御素子 2007年5月18日
特願2007-133183
特開2008-288099
  大橋 治彦 超精密形状測定方法及びその装置 2007年5月23日
特願2007-163132
特開2008-292438
  守友 浩 微細物性加工方法および微細物性加工装置 2007年7月23日
特願2007-191255
特開2009-23892
  冨澤 宏光 パルス整形装置、パルス整形方法、及び電子銃 2007年7月30日
特願2007-197232
特開2009-31634
  青柳 秀樹 挿入光源装置 2007年7月30日
特願2007-197969
特開2009-32623
 
・平成18年(5件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  青柳 秀樹 高耐熱・高速放射光モニター 2006年1月6日
特願2006-1050
特開2007-183142
  大島 隆 高精度クロック・トリガ連続遅延装置 2006年3月13日
特願2006-67346
特開2007-241950
  冨澤 宏光 光強度分布整形装置 2006年3月17日
特願2006-75424
特開2007-249059
  平田 邦生 改変アポフェリチンの製造方法とその利用方法 2006年9月7日
特願2006-243246
特開2008-088059
  池田 直 物質中の電子密度を双極子状に分布させることで誘電体特性を実現する方法 2006年11月22日
特願2006-315083
特開2007-223886
 
・平成17年(7件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  松下 智裕 1軸回転直線移送型のトランスファーロッドで試料台を直線移送、回転、掴む、押出して放すの動作をおこなう装置 2005年2月18日
特願2005-41580
特開2006-226863
  加藤 和男 X線吸収微細構造分析方法およびその分析装置 2005年3月23日
特願2005-84523
特開2006-266829
  坂田 修身 溶液と固体との界面構造のX線迅速構造解析方法 2005年3月31日
特願2005-100449
特開2006-284187
  坂田 修身 超微細構造体のX線迅速構造解析装置 2005年4月14日
特願2005-116712
特開2006-292661
  松下 智裕 逆X線光電子ホログラフィー装置およびその測定方法 2005年4月15日
特願2005-118762
特開2006-300558
  高田 昌樹 結晶物質のX線回折データのMEM構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 2005年6月24日
特願2005-184553
特開2007-3375
  花木 博文 光電変換素子及びそれを用いた電子線発生装置 2005年9月14日
特願2005-267593
特開2007-80697
 
・平成16年(9件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  大石 泰生 Be材による放物面型X線屈折レンズの作成方法 2004年1月26日
特願2004-16617
特開2005-207962
  大隅 寛幸 構造因子テンソル要素決定法及びそのためのX線回折装置利用法 2004年2月13日
特願2004-71667
特開2005-227251
  松下 智裕 電子ホログラムから立体的な原子配列を再構成する方法 2004年2月13日
特願2004-71668
特開2005-227252
  馬込 保 大面積放射線線量分布測定法 2004年3月8日
特願2004-64658
特開2005-249747
  廣沢 一郎 X線分析用試料容器及び試料容器収容装置 2004年3月9日
特願2004-65584
特開2005-257306
  坂田 修身 超微細ワイヤー構造の作成方法 2004年3月12日
特願2004-70077
特開2005-260017
  高田 昌樹 微小試料挿入容器、微小試料装着治具、X線回折装置、微小試料挿入容器の形成方法、及び微小試料装着方法 2004年3月31日
特願2004-104898
特開2005-291817
  熊谷 教孝 インライン型アキュームレータ 2004年4月12日
特願2004-116813
特開2005-299792
  坂田 修身 超微細構造体のX線迅速構造解析方法 2004年5月14日
特願2004-144473
特開2005-326261
 
・平成15年(7件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  植木 龍夫 医薬品成分のX線分析の非破壊・迅速システム 2003年3月25日
特願2003-83310
特開2004-394094
  熊谷 教孝 インライン型アキュームレータ 2003年3月31日
特願2003-94719
特開2004-301226
  坂田 修身 X線実験用試料ホルダ 2003年4月9日
特願2003-104905
特開2004-309371
  成山 展照 生体等価型熱蛍光体二次元素子及びその製造方法 2003年4月11日
特願2003-107356
特開2004-317136
  坂田 修身 酸化防止用ドーム型試料セル 2003年5月20日
特願2003-141704
特開2004-347343
  坂田 修身 X線検出器用回転式交換機 2003年11月6日
特願2003-376643
特開2005-140611
  佐藤 一道 気体又は液体から指向性イオンビームを発生する装置 2003年12月19日
特願2003-422897
特開2005-183194
 
・平成14年(6件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  上杉 健太朗 X線透過像測定装置における空間分解能評価素子 2002年7月30日
特願2002-221116
WO2004/012209 *
  佐藤 真直 X線応力測定方法及びX線応力測定装置 2002年10月15日
特願2002-300355
特開2004-132936
  上條 長生 X線回折光学素子 2002年10月24日
特願2002-309941
特開2004-145006
  上條 長生 光学部品およびその製造方法 2002年10月25日
特願2002-310845
特開2004-145066
  坂田 修身 真空装置を窒素置換後に大気圧に開放する器具 2002年11月14日
特願2002-330156
特開2004-160376
  原 雅弘 荷電粒子の加速模型 2002年11月14日
特願2002-330457
特開2004-163716
  *国際特許公開番号
 
・平成13年(3件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  淡路 晃弘 積層型ピンホールディスク及びその製造方法 2001年2月5日
特願2001-28491
特開2002-228797
  佐藤 一道 ビーム位置検出装置 2001年10月3日
特願2001-307340
特開2003-114280
  高田 昌樹 1次元または2次元検出器を用いた粉末X線回折データ測定方法 2001年11月13日
特願2001-347637
特開2003-149180
 
・平成12年(2件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  工藤 統吾 無線電話を用いて複数測定装置を同時に動作させる方法 2000年6月28日
特願2000-193817
特開2002-15899
  鈴木 芳生 フルネルゾーンプレート用多層膜の製造方法 2000年12月26日
特願2000-394583
特開2002-196122
 
・平成11年(1件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
  石井 真史 構造選択型X線吸収分光法及び装置 1999年8月10日
特願平11-226184
特開2001-50911
最終変更日 2011-05-27 10:30