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JASRIの知的財産権
(財)高輝度光科学研究センターが出願した特許のうち既に公開されている特許を紹介します。ここに紹介した特許の内容に関しては特許庁のホームページで閲覧可能ですのでそちらを参照してください。また、特許に関するお問い合わせは利用業務部図書情報課(patent@spring8.or.jp)までお願いします。
[特許庁ホームページ:http://www.jpo.go.jp/indexj.htm]
[特許電子図書館(特許庁の web 特許検索閲覧サービス):http://www.ipdl.inpit.go.jp/homepg.ipdl]
 ↑以下に紹介する特許に関しては、特許電子図書館の「公報テキスト検索」にて「出願人/権利者」欄に「高輝度光科学研究センター」と入力して検索すれば最新の情報ですべて表示されます。
2010年1月8日 現在
・平成20年(1件)    
  
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
太田 昇
導電層を有するフィルムで指示された光センサを内蔵するビームストップ
2008年1月25日
特願2008-14475
特開2009-175020
 
・平成19年(8件)    
  
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
坂田 修身
圧電体、圧電体素子、圧電体素子を用いた液体吐出ヘッド及び液体吐出装置
2007年3月2日
特願2007-53507
特開2008-218675
冨澤 宏光
加速空胴のエッチング方法
2007年3月28日
特願2007-84245
特開2008-243671
冨澤 宏光
ビーム測定装置、ビーム測定方法、及びそれを用いたポンプ・プローブ測定方法
2007年5月18日
特願2007-133046
特開2008-288087
冨澤 宏光
電子銃、電子発生方法、及び偏光制御素子
2007年5月18日
特願2007-133183
特開2008-288099
大橋 治彦
超精密形状測定方法及びその装置
2007年5月23日
特願2007-163132
特開2008-292438
守友 浩
微細物性加工方法および微細物性加工装置
2007年7月23日
特願2007-191255
特開2009-23892
冨澤 宏光
パルス整形装置、パルス整形方法、及び電子銃
2007年7月30日
特願2007-197232
特開2009-31634
青柳 秀樹
挿入光源装置
2007年7月30日
特願2007-197969
特開2009-32623
 
・平成18年(5件)    
  
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
青柳 秀樹
高耐熱・高速放射光モニター
2006年1月6日
特願2006-1050
特開2007-183142
大島 隆
高精度クロック・トリガ連続遅延装置
2006年3月13日
特願2006-67346
特開2007-241950
冨澤 宏光
光強度分布整形装置
2006年3月17日
特願2006-75424
特開2007-249059
平田 邦生
改変アポフェリチンの製造方法とその利用方法
2006年9月7日
特願2006-243246
特開2008-088059
池田 直
物質中の電子密度を双極子状に分布させることで誘電体特性を実現する方法
2006年11月22日
特願2006-315083
特開2007-223886
 
・平成17年(7件)     
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
松下 智裕
1軸回転直線移送型のトランスファーロッドで試料台を直線移送、回転、掴む、押出して放すの動作をおこなう装置
2005年2月18日
特願2005-41580
特開2006-226863
加藤 和男
X線吸収微細構造分析方法およびその分析装置
2005年3月23日
特願2005-84523
特開2006-266829
坂田 修身
溶液と固体との界面構造のX線迅速構造解析方法
2005年3月31日
特願2005-100449
特開2006-284187
坂田 修身
超微細構造体のX線迅速構造解析装置
2005年4月14日
特願2005-116712
特開2006-292661
松下 智裕
逆X線光電子ホログラフィー装置およびその測定方法
2005年4月15日
特願2005-118762
特開2006-300558
高田 昌樹
結晶物質のX線回折データのMEM構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法
2005年6月24日
特願2005-184553
特開2007-3375
花木 博文
光電変換素子及びそれを用いた電子線発生装置
2005年9月14日
特願2005-267593
特開2007-80697
 
・平成16年(9件)     
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
 
大石 泰生
Be材による放物面型X線屈折レンズの作成方法
2004年1月26日
特願2004-16617
特開2005-207962
 
大隅 寛幸
構造因子テンソル要素決定法及びそのためのX線回折装置利用法
2004年2月13日
特願2004-71667
特開2005-227251
 
松下 智裕
電子ホログラムから立体的な原子配列を再構成する方法
2004年2月13日
特願2004-71668
特開2005-227252
 
馬込 保
大面積放射線線量分布測定法
2004年3月8日
特願2004-64658
特開2005-249747
 
廣沢 一郎
X線分析用試料容器及び試料容器収容装置
2004年3月9日
特願2004-65584
特開2005-257306
 
坂田 修身
超微細ワイヤー構造の作成方法
2004年3月12日
特願2004-70077
特開2005-260017
 
高田 昌樹
微小試料挿入容器、微小試料装着治具、X線回折装置、微小試料挿入容器の形成方法、及び微小試料装着方法
2004年3月31日
特願2004-104898
特開2005-291817
 
熊谷 教孝
インライン型アキュームレータ
2004年4月12日
特願2004-116813
特開2005-299792
 
坂田 修身
超微細構造体のX線迅速構造解析方法
2004年5月14日
特願2004-144473
特開2005-326261
 
・平成15年(7件)     
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
 
植木 龍夫
医薬品成分のX線分析の非破壊・迅速システム
2003年3月25日
特願2003-83310
特開2004-394094
 
熊谷 教孝
インライン型アキュームレータ
2003年3月31日
特願2003-94719
特開2004-301226
 
坂田 修身
X線実験用試料ホルダ
2003年4月9日
特願2003-104905
特開2004-309371
 
成山 展照
生体等価型熱蛍光体二次元素子及びその製造方法
2003年4月11日
特願2003-107356
特開2004-317136
 
坂田 修身
酸化防止用ドーム型試料セル
2003年5月20日
特願2003-141704
特開2004-347343
 
坂田 修身
X線検出器用回転式交換機
2003年11月6日
特願2003-376643
特開2005-140611
 
佐藤 一道
気体又は液体から指向性イオンビームを発生する装置
2003年12月19日
特願2003-422897
特開2005-183194
 
・平成14年(6件)     
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
 
上杉 健太朗
X線透過像測定装置における空間分解能評価素子
2002年7月30日
特願2002-221116
WO2004/012209*
 
佐藤 真直
X線応力測定方法及びX線応力測定装置
2002年10月15日
特願2002-300355
特開2004-132936
 
上條 長生
X線回折光学素子
2002年10月24日
特願2002-309941
特開2004-145006
 
上條 長生
光学部品およびその製造方法
2002年10月25日
特願2002-310845
特開2004-145066
 
坂田 修身
真空装置を窒素置換後に大気圧に開放する器具
2002年11月14日
特願2002-330156
特開2004-160376
 
原 雅弘
荷電粒子の加速模型
2002年11月14日
特願2002-330457
特開2004-163716
 
*国際特許公開番号    
 
・平成13年(3件)     
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
 
淡路 晃弘
積層型ピンホールディスク及びその製造方法
2001年2月5日
特願2001-28491
特開2002-228797
 
佐藤 一道
ビーム位置検出装置
2001年10月3日
特願2001-307340
特開2003-114280
 
高田 昌樹
1次元または2次元検出器を用いた粉末X線回折データ測定方法
2001年11月13日
特願2001-347637
特開2003-149180
 
・平成12年(2件)     
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
 
工藤 統吾
無線電話を用いて複数測定装置を同時に動作させる方法
2000年6月28日
特願2000-193817
特開2002-15899
 
鈴木 芳生
フルネルゾーンプレート用多層膜の製造方法
2000年12月26日
特願2000-394583
特開2002-196122
 
・平成11年(1件)
 
発明者リーダー
発明名称
出願日
出願番号
公開番号
 
石井 真史
構造選択型X線吸収分光法及び装置
1999年8月10日
特願平11-226184
特開2001-50911
最終変更日