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ガラスやセラミックス材料を製品化するための研究開発には、これらの材料の持つ機能性を分析・解析する評価計測技術の構築が求められています。熱物性や機械的特性そして光物性等の機能発現は、材料の電子や原子・分子構造の振る舞いに左右されています。これらの電子や原子・分子構造を調べる手段として、SPring-8の放射光を用いた回折法による構造解析が有力な分析・解析手法として、ガラスやセラミックス材料への適用が期待されています。今回は、X線回折法をガラスやセラミックス材料に適用した話題をご紹介します。多数の方々のご参加を歓迎いたします。
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| 主 題： | ガラス・セラミックス材料の構造を分析・解析するためのX線回折法の利用 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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主 催：
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SPring-8利用推進協議会 研究開発委員会
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共 催：
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（財）高輝度光科学研究センター
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日 時：
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2011年8月12日（金）13：10～17：20（研究会）17：30～19：00（技術交流会）
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会 場：
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研究社英語センタービル 地下2階大会議室 （技術交流会：地下1階 中会議室）
〒162-0825 新宿区神楽坂1-2 JR中央線/ 飯田橋駅西口または地下鉄/飯田橋駅B3出口より徒歩3分
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| プログラム： | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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