電子製品の特定有害物質規制への対応　No.009

背景
　電子製品に含まれる６価クロムの人体への影響、および廃棄された電子製品による環境汚染の問題から、６価クロムの使用を全廃する取り組みが盛んになっています。一方で、化学処理による６価クロム検出の信頼性が確立されていないことが問題となっています。そこで必要になるのが６価クロムの非破壊分析法です。
　化学処理による６価クロム分析法では、水や熱水に溶解して抽出します。そのため、抽出の過程で6 価クロムの価数が変化したり、共存する元素との反応が起こる、さらに難溶性の皮膜はうまく分析できないという問題点があり、分析結果の信頼性が十分ではありませんでした。

成果の詳細
　SPring-8 のXAFS 法は、試料を破壊しないで、微量元素の絶対量を測ることが得意です。この方法でクロム化合物を測定したところ、６価クロムと3 価クロムがはっきり分離して観察されました。そこで、同様の方法で各種のクロメート皮膜を調べ、それぞれに含まれる６価クロムの絶対量（含有率）を明らかにしました。
　さらにXAFS の入射角依存性から、クロメート中の６価クロムの深さ分布を測定することも可能になり、クロメート皮膜のまま直接６価クロムを分析する技術が向上しました。

XAFSによるクロメートの測定結果

各種クロメートの吸収スペクトルに現れる特定ピーク（5.993keV）が６価クロムに対応します。3価クロメートではそのピークは見られません。このことを利用すると、６価クロムの含有率の測定が可能になります。

各種クロメートの６価クロム含有率

左のXAFSのスペクトルから算出されたものです。